日本KETT膜厚计/涂层测厚仪 LZ-200J
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日本KETT膜厚计/涂层测厚仪 LZ-200J

仪器编号: LZ-200J
仪器品牌:
计量单位:
商品简介: 日本KETT LZ-200J膜厚计/涂层测厚仪采用了磁性和涡流两种测厚方法。日本KETT LZ-200J膜厚计/涂层测厚仪可无损的测量磁性金属基体(如铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆层的厚度(如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上的非导电覆层的厚度(如珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。日本KETT LZ-200J膜厚计/涂层测厚仪内置打印机,可打印数据,有四个统计功能。
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日本KETT LZ-200J膜厚计/涂层测厚仪的特点:
日本KETT LZ-200J膜厚计/涂层测厚仪采用了磁性和涡流两种测厚方法。日本KETT LZ-200J膜厚计/涂层测厚仪可无损的测量磁性金属基体(如铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆层的厚度(如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上的非导电覆层的厚度(如珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。日本KETT LZ-200J膜厚计/涂层测厚仪内置打印机,可打印数据,有四个统计功能。

日本KETT LZ-200J膜厚计/涂层测厚仪的技术参数:

测定方法 电磁式及高频涡流式
测定对象 磁性金属上非磁性涂镀层及非磁性金属上绝缘层
测定范围 电磁式:0~1500um或0~60.0mils
高频式:0~800um或0~32.0mils
测定精度 电磁式:<15um±0.3um   >15um±2%
高频式:<50um±1um       >50um±2%
分辨率 <100um 0.1um    >100um 1um
界限设定 可设定上/下限数值
测试单位 公/英制互换
显示方式 LCD数显
操作面板 密封防水按键
附属品 铁基体/铝基体/校正标准片/电池/皮套/说明书
电源 DV3V 主机5#碱性电池×6个 打印机5#碱性电池×4个
体积 80(W)×80(D)×30(H)
重量 1100g
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