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C 电容测试仪3506/3505登场

C 电容测试仪 HIOKI 3506与HIOKI 3505 新登场
高精度、高速检查低容量电容器

HIOKI(日置电机株式会社：日本国长野县上田市；社长:吉池达悦)开发出最适合于测量频率为1kHz、100kHz、1MHz测量所要求的低容量电容器测量的“C 测试仪 3506与C 测试仪 3505”。

• 低容量C测量仪器
  C 测试仪 3506与3505是用于测量电解电容器以外的电容器的C（静电容量）测量仪器，可测量频率为1kHz、100kHz（仅限于3505）、1MHz的C（静电容量）与D（损耗系数）。C 测试仪 3506与3505的测量范围：C为0.000 fF～15.0000μF，D为0.00001～1.9900。最低量程为220 fF（1MHz时），与以往的产品相比，大幅度改进了微小容量测量的重复精度。提高了测量期间检测接触出错的能力，适合于装入自动检查设备。
• 充实了从低容量到高容量的C仪表系列产品
  在已经发售的C 测试仪 3504的基础上新增本次发售的C 测试仪 3506与3505，可进行低容量到高容量的电容器C测量。各机型均可进行最快2ms的高速测量，除了可应对taping machine 之外，还可以通过可将C测量值划分为最多13或14＊1类别的BIN功能应用于分选机。 另外，可保存最多99或70＊2组的测量条件，除了可通过外部控制选择测量条件之外，还可以向外部输出比较器结果与BIN分选测量结果等，完善了便于构建与自动设备之间连接的接口。在构建高速自动化生产线上发挥出强大的威力。
  
  *1 3506与3505为13类，3504为14类
  *2 3506与3505为70组，3504为99组

HIOKI已销售了C 测试仪3504，电容器厂家与自动设备厂家还要求提供可测量低容量电容器的C测量仪器。C 测试仪 3506与3505继承了3504获得好评的高速检查与测量值分类BIN功能，是可对低容量电容器实现稳定测量精度并符合市场要求的产品。与3504一样，C 测试仪 3506与3505的接口也采用外部I/O?RS-232C?GP-IB为标准配备，因此充实了简易构建自动化生产线的功能。

便利性(C 测试仪 3506与3505的功能)

• 最快2ms（模拟测量1ms）的高速测量 - 具有最快２ms（FAST时）的高速测量，可应对taping machine等的高速检查。测量速度可进行FAST/NORMAL/SLOW三档选择。
• 提高了重复测量精度 - 最低C量程为220 fF（1MHz时），与以往产品相比，微小容量测量的重复精度得到了提高。
• 充实了接触检测功能 - 利用振动检测功能等，可检测测量期间的接触出错。出现接触出错的测量对象并非不良，通过ERR(出错)判定，有助于提高成品率。
• 比较器功能 - 可分别设定第1参数（C）与第2参数（D）的上、下限值。判定结果可利用蜂鸣器鸣响与LED显示进行通告，也可以进行外部输出，设定值可一直显示。
• 只需要选择的简单操作与LED显示 - 是指从面板显示所标记的项目中只需要进行选择的简易操作。设定的测量条件通过点亮LED进行显示，一目了然，便于把握设定条件。
• BIN分选功能 - C测量可根据测量值划分为最多13类，因此易于进行分选。
• 触发器同步输出功能 - 施加触发后，输出测量信号，仅在测量时向被测元件施加信号。由于接触被测元件时没有大电流，因此减轻了接点的磨损。
• 可保存70组测量条件 -可保存最多70组测量条件，可迅速应对重复测量较多的生产线的被测元件切换。可利用EXT I/O读取任意测量条件。
• 打印机输出 - 通过RS-232C接口，可从选购件—9442打印机打印出测量值、比较器结果及BIN分选测量结果。这便于检查结果的数据附加。
• EXT I/O?RS-232C,GP-IB标准配备 - 触发、测量条件的负载可从外部进行控制。另外，可进行比较器结果、BIN分选测量结果以及测量结束等的外部输出，完善了与自动设备之间的接口。
• 符合JIS标准 - 针对电解电容器以外的电容器，以较低的价格实现了基于JIS C 5101-1的，频率为1kHz、1MHz的C-D(tanδ)测量。

HIOKI 3506/HIOKI 3505电容测试仪的主要用途

电容器厂家的检查与分选

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发布日期：2008-6-9　【返回】